光学显微镜三维图像重构原理-不同焦平面测量

光学显微镜三维图像重构原理-不同焦平面测量

显微镜在不同焦平面的测量方法
    显微镜不同焦平面的标定方法
　　在显微镜的条件下，由于观察表面的对象比较小，往往很难对物体表面进行操作，因此不同焦平面的测量试验方法都采用球磨粒作为试验对象。
    球磨粒比较容易制作和采集，在显微镜条件下也比较容易放置。如果采用其他形貌的磨粒，则不容易放置在比较理想的位置。为了对磨粒的直径进行标定，采用标准测量光栅。首先将光栅放到显微镜下，通过CCD采集光栅的图片

    光学显微镜三维图像重构原理分析　　
　　物体表面高低不平导致了物体表面有些区域在焦平面内，
　　在焦平面范围内，图像的亮度变化比较大；在焦平面外的亮度变化比较小。反映在信号的层面上，在焦平面的范围内，高频信号变化幅值比较强；在焦平面外，高频信号变化幅值比较弱。