螺旋梯阶状小形成某种由多圈蜷线所构成-金属显微镜

螺旋梯阶状小形成某种由多圈蜷线所构成-金属显微镜
 当螺旋梯阶状小形成某种由多圈蜷线所构成的，相隔成层的蜷面层时，每层的厚度相当于作为一定结构单位的一层硅-氧四面体群的厚度，在型结构的试样上曾发现超细的两圈蜷线，根据干涉仪的测量，组成的蜷面层的平均高度等于4.9A，测量误差为4.5%，显然，蜷线的每一圈相当于两层取向相同的硅-氧四面体，蜷线两圈有规律的交替同样导致了平等层组与反平行层粗的有规律的更迭，并且引起型结构的形成。  同样，在型结构的试样上，由两圈蜷线组成的蜷面层的平均高度等于7.9A，亦即在洞里误差范围内与试样结构中所具有的一层取向相同的硅-氧四面体的厚度一致，在更多层堆积的情况下同，上述的一致性仍继续保持；按18层排列的规律构成了试样晶面上的结构，蜷线梯阶高度等于51.9A，梯阶高度的测定是按照直接测量干涉条纹位移的方法进行，在这种情况下的精确度不高，在具有很大的超周期的其他结构类型的试样上，该类型有内部结构与晶面蜷线显微形貌的一致性也同样有过。  在一个晶体上由于蜷线接近时，四个活动中心同时作用而形成的梯阶平均高度等于1493A，此晶体接近方向的X射线振动照片的测量证明了每经过144层就在相当于6层排列的重复周期的基础上垛上一层有规律的“层错”因此晶体中的超周期约为360A。