材料的光学性质的深度剖面分析多功能显微镜

材料的光学性质的深度剖面分析多功能显微镜
气体一传声器理论的研究中清楚地看出，可以利用光声效应完成对样品的各种测量。显然，可以利用光声谱仪求得任意的并且是所有形式的材料的光吸收资料。当某些参量如样品的热扩散率或几何尺寸未知时，这些资料可能是定性的。而当它们为已知时，则完全是定量的。此外，改变斩光或调制频率，可以得到材料的光学性质的深度剖面分析。在高的斩光频率，得到的是样品表面附近的资料，而在低的斩光频率，所得资料来自样品内较深的部分，这是光声技术所独具的特色。倘若斩光频率足够高，从而使热扩散长度小于光路径长度时，则还可能得到完全不透明材料的光吸收资料，这是它另一个特有的性能。现在的光声谱工作大体上都是实验测定物质的光吸收性质。这些实验已经很有成效，获得了无机、有机和生物系统的有价值的光谱资料，这些资料是用其它传统的技术所不易获得的。
非均匀样品    至今，我们只是涉及均匀固体材料或由均匀层组成的层状材料中的光声效应。然而，将光声效应应用于非均匀样品也是很有意义的。感兴趣的层状系统包括薄膜电子材料，涂有油漆或聚合物薄膜的样品以及如照相底片等多层材料。此外，还有许多有实际意义的问题，其中有样品是热学上均匀的，而光吸收从表面随着深度连续变化。这些问题包括确定掺杂的半导体材料的特性，表面与内部有不同吸收性质的激光窗口的特性以及生物组织的特性。