TEM显微镜是研究各种金属表面微观结构的一种的工具

TEM显微镜是研究各种金属表面微观结构的一种的工具
透射电镜(TEM) 
    透射电镜属于电子显微镜的一种，它的成像原理与光学金相显微镜基本相同，只是由电子束代替可见光，由电磁透镜代替光学透镜
    用透射电镜鉴别镀层的组织时，由电子枪发射的电子，经两个聚光镜聚焦成一束很细的、亮度极高而发射度较小的电子束由于镀层金属试样表面对电子的反射能力较差，因此不能像光学金相显微镜那样采用反射成像。又由于电子束穿透金属试样的能力不大，电不能直接用金相试样作透射观察，所以用透射电镜鉴别镀层结构时，需要采用专门的方法制备复型(如塑料一碳二级复型、萃取复型等)或金属薄膜等措施，使金属内部结构显露出来。以确保电子显微镜的分辨率，提高镀层微观结构的鉴别效果透射电镜的分辨率虽高，但它的视域较小。所以它是光学金相显微镜的发展和补充，而不能看作其取代光学金相显微镜。为了正确而有效地分析镀层的组织和形貌，通常应先以光学金相显微镜进行鉴别其全貌，然后再用透射电镜作进一步鉴定。
由于背射电子和吸收电子的作用，得到晶体结构分析的信号，能产牛电子通道效应，加强了镀层结构鉴别的效果。扫描电镜的另一个功能是由于X射线光子和俄歇电子的能量可直接表征元素的特性，所以可用来作为镀层金属成分分析的信号，借以鉴别镀层的成分有可靠的依据。
场致离子显微镜    场致离子显微镜是研究各种金属表面微观结构的一种新的工具。同时也可通过表面分析研究金属的晶界结构和相变等等。