显微镜双折射比的测定可用于确定粘土定向度值

显微镜双折射比的测定可用于确定粘土定向度值
  如果颗粒的定向是不完善的，又如果一组平行粘土片的c轴方向不是垂直于光的方向，那么最小亮度将大于或最大光亮度将小于完善的定向，最小光亮度lmin和最寺光亮度lmax之比被称作双折射比。  双折射比的测定可用于确定粘土定向度值，尽管用光测法研究单矿物质的单个颗粒定向有困难的。  图形仪的原理研制成的一种自动测量和绘制定向资料的技术和仪器。  x-射线衍射法为研究土组构所提供的定量分析方法，其优点是光学和电子显微技术所不能比拟的，另一方面，x-射线具有一些缺点：  1、对于包含有一种以上矿物的物质用x-射线法的结果进行解积是困难的  2、x-射线幅射的强度取决于样品的特征、x-射线发射管的电压和电流、狭缝的开展度和衍射角，一些较小的不连续的组构将发现不了，这是因为相同x-射线峰高可以由不同的微组构产生的。  3、x-射线结果最有利于靠近试样表面的组构。   所以，x-射线衍射最适用于单一粘土矿物的组构分析，它和其它方法在一起能够提供关于微组构特征的细节，单一粘土矿物颗粒定向区必须超过x-射线束的直径，这一点很重要。