测量表面粗糙度的仪器当相互比较表面测量仪器

测量表面粗糙度的仪器当相互比较表面测量仪器

    表面粗糙度的定义关于表面微观结构的各个方面的概念实际表面偏离想表面的偏差用三种结构型式——粗糙度、波度和加工纹理方向来描述。    波度：由表面结构的宽节距部分组成，其节距一般要比粗糙度截止宽度宽，因此被排除于测量以外。    加工纹理方向：是占优势的表面花纹的方向，一般由采用的制造工艺方法所决定，在这一章中，只有表面粗糙度是我们所关心的问题。
    用于测量表面粗糙度的仪器当相互比较表面测量仪器时，不仅仪器是基本要素，而且评价整个测量系统，包括表面的型式，仪器分设备和数据显示装置等，
测量系统的各个部件比较表，正如下述，有些仪器通常测出表面截面轮廓，有些仪器可作出形貌图。    光剖切式——发展了这一技术，称之谓光切法，这是把形成尖锐刀刃形状的光束，以与表面间大约45度角投影到被测表面，在观察显微镜管中产生表面的光切剖面，如图3 所示，在校正好合适的放大倍数后，根据光学剖面显微图象可以测出表面的截面轮廓，它主要用于比较粗糙的表面（峰互谷大于1 μm ）。