表面轮廓透射电子显微技术的应用-光切显微镜

表面轮廓透射电子显微技术的应用-光切显微镜
电子显微镜法
  在透射电子显微技术上一般需要制备透明的表面复型。除了复型技术往往是一件麻烦的事之外，还很难肯定复型是否代表了原来的轮廓或者从复型所得的电子显微像的解释是否对口径。若采用反射电子显微镜时这些困难就不会发生。其一般原理是把电子流沿观测角入射到被观察的表面上和按通常办法调整散射的电子。所得的电子显微像所反映的
表面轮廓有如行人看到迎面开来的汽车车灯所照亮的马路的不平整表面一样。表面不平整性形成了长的阴影但是随视角变小而缩短。然而计算出所揭示的表面的特征的真正高度并不困难。这种技术的最大优点是不需要制备复型：表面本身直接在电子流下被观测(若表面是非金属时必须喷涂上一层银的薄膜以避免充电效应)。
单从电导率的测定来对平面的真实接触面积作出准确的估算是困难的。电导值必须同时决定于金属桥的大小和数目。因为每个金属桥的散布电阻与它的直径成反比，而接触面积与其直径的平方成正比，因此，对于在一固定电阻值下，接触面积就与金属桥的数目成反比。虽然在平面相接触的情况下，显然支承表面的接触点不可能小于三，但对金属桥的数日还是无法肯定的。如果假定金属桥的数目实际上就是三个，那末我们就可从接触电阻来估算接触面积。计算的结果表明，在表面的宏观面积上只有很小的一部分是紧密接触的
接触区域可用光干涉法测出，并可量出开始滑动时的粘附力和切线力。这方法提供了也许是研究分子般平滑的表面间的相互作用的唯一方法。可以在云母上覆盖单分子层并可研究它们之间的相互作用。