电陶瓷材料制备鉴定珠光体中铁素体和碳化物

电陶瓷材料制备鉴定珠光体中铁素体和碳化物
不同分析手段测得缝果的比较
    由于用STM研究合金的组织结构方面的工作尚处于探索阶段，故STM观察的结果必须与其它分析测试手段    (如金相显微镜、扫描电子显微镜等)的观察结果相比较，并    由此获得有关组织结构真实信息．
影响扫描隧道显微镜图象质量的因素很多，其中最重要的是扫描隧道显微镜的扫描范围和分辨率，这两个因素又是相互矛盾的．扫描范围太小，可供观察的视场太窄，无法与金相显微镜和扫描电镜图象衔接，也无法看到贝氏体的全貌；但扫描范围过大，则分辨率下降，达不到观察试样表面精细结构的目的．为此，考虑到现有压电陶瓷材料制备的工艺可行性
关于实验中所观测到超亚结构单元的物理解释，由于样品表面经过浸蚀，因而可认为，这种微起伏实际上反映了在亚单元内存在的各类微观缺陷，超亚单元之间的凹处可能是微观界面，或其它规则排列的线或面缺陷，如位错、层错、孪晶等．对此还需做更深入的研究．
    除贝氏体铁素体外，用STM首次观察到有色合金贝氏体组织中也存在亚单元结构．为测得亚单元的起伏大小众所周知，采用适当的浸蚀剂，可显示珠光体的层片状特征，其原理在于浸蚀剂一般优先腐蚀两相界面(此处能量较高)，但采用一般的金相分析方法，很难鉴定珠光体中铁素体和碳化物的腐蚀难易程度．采用传统的分析方法研究本文实验用合金时，也面临同样问题．由于贝氏体铁素体内部存在大量缺陷，如亚片条间界面、亚单元间界面及超哑单元间界面等，因而导致铁素体容易腐蚀．若此时仪器的分辨率较低，则很容易得出如下错误的结论，即铁素体的耐蚀性能劣于奥氏体．