测量材料的晶粒大小-断口面积测量多功能显微镜

测量材料的晶粒大小-断口面积测量多功能显微镜
    具有退火孪晶的奥氏体晶粒大小很难测定，尽管孪晶与晶界同样会影响材料的性能和行为，但在测量这类材料的晶粒大小时，退火孪晶是不计入的，而这类植被的组织- 性能关系中与只考虑晶界面积相比总的界面面积与性能的相关更好一些。    晶粒大小的测量可采用几种方法：与标准图片对照断口晶粒大小面积测量法,截距法晶界的描绘　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　    显示钢的奥氏体晶粒的方法可用于直接观察，例如：热板金相法或电子发射金相法，但是如本章前面所述，大多是间接的方法而且每一种方法的应用范围有限且有其固有的优缺点，在真空下把试样加热到所有要求的温度的热浸蚀法和热板金相法相似，区别只是在冷却到室温以后再观察，由于表面张力效应面晨晶界处出现热光线槽，可以用真空炉加热或者把试样密封包装到抽成真空的玻璃或石英管中，而在普通电炉中加热，比钢的上临界点稍高的温度下加热的试样其晶界反差不足，
此时可用暗视场观察，热浸蚀可适用于几乎所有的钢样，有时被当作最后，另一种热浸蚀法是在熔融的玻璃或盐类中浸蚀奥氏体晶界，应用由等量的组成的盐浴，试样在盐浴中加热约10min后取出并淬油，除掉表面的残盐后抛光并在酸酒精溶液是浸蚀，这一方法应用广泛，但是其表层晶粒大小的显示要比内部清楚。