显微镜底座利用组合的透射照明来观察载片上待测样品

显微镜底座利用组合的透射照明来观察载片上待测样品
如果要在那些必须考虑部分荧光被FRP再吸收的光谱范围内完成测量，则这一点有重要意义。

  测微荧光术专用的显微镜底座利用组合的透射照明来定位显微镜载片上的待测物，并再用表面照明进行测量，有两个光源可用，从供给低光强度的钨灯或卤素石英灯得到透射照明，用这种照明可以防止FRP在物体以吉到显微镜视野期间发生的衰减，在物体吸收的基础上，用亮场聚光器使之可见，当寻找被测物时，视场光阑充分打开，照明全视野，从 高压汞灯得到表面照明，用垂直照明装置把入射光会聚到样品上，用激发滤波器组合选择希望的波长范围，垂直照明装置视场光阑的大小正好稍大于测量光阑
，在某些现代荧光计中，测量视野可见为是叠加到显微镜样品像上的照明光斑。