电光器件细晶粒尺寸-杂质含量计量金相显微镜

电光器件细晶粒尺寸-杂质含量计量金相显微镜

    去除气孔是使力学可靠性和介电可靠性最大改善多种电功能的关键目标。
    这对于电子基片、电光器件、离子导体、多层电容器以及压电系统等都是特别重要的，细晶粒尺寸也是对控制介电性能起重要作用的，因为它能控制畸尺寸，控制畸壁的移位，引起的特性上形成磁滞回线，因而引起功率损耗。
    在特殊的离子及电子电导的情况下，性能的优选及可靠性的改进可能是复杂的，特别当器件是在高温下工作时，要考虑的因素是所要求的杂质含量，它的存在以给出合适的电导而不致偏析到晶界上去，而在晶界处它们会干扰电导过程，增大晶粒尺寸会使包含在电导过程中的晶界数目降低，因而降低了晶界对总电阻的贡献，但是这会导致力学性能变弱，所以确定晶粒尺寸时必须综合考虑，此外，一些晶粒的择优定向会提高电导率，其作法让电导平面与晶界方向垂直，在高温超导体中，如此的定向措施可视为达到高的临界电流的理想方法。