透射比高的染色样品很少能用微显像测密术作测量

透射比高的染色样品很少能用微显像测密术作测量
  透射比高的染色样品很少能用微显像测密术作测量，然而，由于测微荧光术灵敏度高，因而常常能较精确地测量吸收能力很低的制品，假定制品中存在的FRP的荧光有足够的量子效率，在这种情况下，只有当系统的信号-噪声比有利时才可能进行足够的测量：即荧光信号必须足够强，象反差必须最佳，这些要求只有通过把高强度的光源和高质量的第一、第二滤波器系统配合使用才可能实现，正因如此，
用了大量篇幅来讨论光法和滤波器，基于同样的理由，不讨论了遭受的、用高NA的物镜来有效在收集荧光的方法。
  显然，当物体的荧光较弱时，从本底上测到的光必须十分低。
  试验测微荧光术采用的滤波器组合的性能和包埋在自生荧光水平较低的安放介质中的标准显微镜制品的性能是理所当然的，为此岢采用注满确定浓度的荧光染料的微细管或者确定荧光染料染色的、显微镜尺寸的球形琼脂糖的小珠。