荧光光谱测量采用365nm波长光照射-显微镜光度计

  作者:厂家库小编006    2020-03-12    阅读:621

荧光光谱测量采用365nm波长光照射-显微镜光度计

    荧光的定量测定稳定的激发光源和灵敏度高和光电倍增管器是荧光定量测定所不可少的基本元件,可使用辐射范围的340-380nm的窄带激发滤光片、400nm 分光镜电流、物镜、双色光分光镜和浸油的荧光)的校正和显微镜光度计光谱灵敏度(主要指光电倍增管对颜色的灵敏性导致荧光强度及颜色的变化。                 1.荧光强度测量:最先建立了在蓝光激发下用轴玻璃为标准测定546nm (采用546nm 滤色片)波段荧光强度的方法,提出用长波紫外光(抑制滤光片430nm )激发,测量546nm 的荧光强度,被测物体的测量面积要大(相当于0.1mm 直径),按反射率测量法把轴玻璃标准的荧光强度定为100 ,546nm 的波长可用有刻度的滤光片单色器来调准,数字电压表上读出的值就是546nm 的相对荧光强度(勿需校正,因为546nm 背景是确定了的)。由于光片上组分厚度无法测得,因此受其制约有绝对荧光强度很难获得。                 2.荧光光谱测量:采用365nm 波长光照射,在400nm ——700nm 波长范围内测量被激发的荧光,就可获得荧光光谱,为此用干涉分度滤光器,把从样品中反射上来的荧光的色散,用高灵敏度的光电倍增管分别测定不同波长的强度,记录从400nm——700nm 之间的发射光谱,它是由一系列不同波长的强度点构成的平均光谱,通常以测得的这个平均光谱曲线的特征来表示样品的荧光性,主要参数有:显微片技术的发展与应用显微制片技术是显示微观世界的一门技术,它同其它学科一样,也经历了一个不断改进、不断完善的过程。

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