偏光显微镜鉴定土壤矿物微量分析可用于土壤

偏光显微镜鉴定土壤矿物微量分析可用于土壤
土壤发生学研究者宁愿用大型的土壤薄片，叫“巨大薄片”（薄片，15X8厘米）。这种大土壤薄片的制备不宜用人工操作，运用圆形转动磨片机，贴上载玻片和磨片时都要维持一定压力，完成的薄片厚度达20-25微米。
土壤超薄片的制作，是先制成直径大约3毫米的薄片，随后用离子射线处理，使之减薄直到薄片厚度仅几百埃。
2、应用集成透射显微技术的可能性和局限性理论上这一系列技术允许连续观察到放大800000倍（X800，000），然而，实际上达不到这样高的位数，常用的光学偏光显微镜的放大倍数多10到100，很少到300，极少达500，这种局限性是因为正常土壤薄片厚仅20-25微米，土中物体直径＜20微米时就难鉴定；并且在大多数情况时，如果直径＜5微米即不可能鉴定。由于制土壤超薄切片的困难，透射电镜的利用受到很大限制，透射电镜主要用于观察土壤悬浊液，借多次重复以鉴定矿物类型。
微量分析用一系列仪器可进行元素的微量分析、微探针可在样品表面求得元素的分布，或一个点一个点地进行分析，样本的表面有几个平方微烽，其精密度可达%数；但是只能用于原子量＞11的元素。激光光谱仪连带偏光显微镜不能用于扫描。但是，样本的分析表面仅稍大于微探针分析的表面，然而精密度较大。微量化学分析可用于土壤薄片，这是借加入特殊试剂，靠用目力比色鉴定的方法，这种技术的潜在作用还待探索。根据光学性质和结晶学特征，运用普通偏光显微镜可进行矿物微量分析；但是，只有在矿物的大小超过土壤粘粒矿物过小，如用偏光显微镜是很少能鉴定的。然而，有其它技术可用以鉴定土壤矿物。例如，应用相差显微镜（或干涉查）观察；透射电镜观察小样本的悬液等，这些广场可鉴定粘粒矿物的主要类型，但是认识它们在土壤中的转变还有困难。用X-射线衍射法进行微量分析还不可能很清楚，