显微镜测量颗粒直径时-测量颗粒投影像的尺寸

显微镜测量颗粒直径时-测量颗粒投影像的尺寸
    显微镜法    使用显微镜可以直接观测到颗粒的形状和大小，可以直接用观察到的几何图像确定颗粒的尺寸，所以显微镜法往往作为其它间接测定方法的基准。这种方法所需的试样分量不多，灵敏度较高；不仅可以直接观察，而且还可以通过拍摄将结果记录下来。这些都是其它方法比不上的优点。    另一方面，由于所取的试样分量很少，所以这种方法对试样有无代表性的要求甚严。同时对试样的制备技术要求也比较严格。用显微镜观测颗粒的尺寸时，有着许多独特的表示方法。因此，充分了解各种颗粒直径的意义便显得格外重要。    使用显微镜测量颗粒直径时，通常都是测量颗粒投影像的尺寸。除了必须测量厚度的特殊情况之外，一般只限于测定颗粒的平面像。

     激光衍射撒射法粒度分布测定仪    前已提及，使用激光测定颗粒的尺寸分布时，较粗的颗粒宜用衍射法，较细的颗粒宜用散射法。为了扩展测定范围，最近出产的光学颗粒测定仪，已不再单纯使用一种方法，而是将衍射法和散射法合并在同一台测定仪器中，这便是衍射撒射法粒度分布测定仪。在这种仪器中，对于lO,tm以上的颗粒用Fraunhofer衍射进行测定；对于0．4—10t~m的颗粒则用Mie散射理论分析。若要将测定对象扩展到0．4弘m以下的颗粒，由于在其散射图中几乎看不到因颗粒直径的不同而引起的差别，所以要从散射图中得出正确的数据是有困难的。为此，还得在仪器中添加偏光散射的集光装置，以弥补这方面的不足，从而能够一直测到小至