微晶的尺寸吸附体积测定仪器-测量显微镜

微晶的尺寸吸附体积测定仪器-测量显微镜
  如果固体无内表面，可以通过测量它在不溶解或不起反应的任何流体中的排出量，得到真实密度，但是，如果是更惯常地有内表面，则应考虑流体分子渗透入孔隙的能力，极接近真实密度的值可以从氦的排出量得到，氦在室温时，可以假定其吸附量为零，正如在做吸附实验时一样以已知质量的吸附剂，置于基本上是一种吸附体积测定仪器，经过除气后，导入已知时的氦，读出压强，应用气体定律可以算出死空间中氦的体积，从空仪器的体积减去此值，立刻得到吸附剂本身所占的体积，由于吸附剂的质量已知，随着便得真实密度。
  x-射线检查  x-射线被晶体衍射，当一反射束在晶体表面受到衍射时，得到一系列的线条，从线条的位置可能计算出晶格参数，如果仪器完好，实验情况理想，只要固体是“宏观结晶”的，线条将是完全明说的，即没有任何宽度，实际上，因为x-射线源的具体大小，
照片的具体胶体大小以及仪器的机械不完好，经常得到一定程度的“仪器性”的线条宽化，然而，迭加在这上面还有本体的宽化，即指在仪器完好和条件理想的情况下仍然发生的宽化，可能由三种原因引起：在晶体中原子层聚合次序的缺陷，或者根据目前的观点是最重要的，微晶的小尺寸，当微晶的线长度小于约1000A，微晶尺寸的影响就开始变为可观。