矿石标本结构构造截面分析图像显微镜-粗糙度测量

矿石标本结构构造截面分析图像显微镜-粗糙度测量
    矿石光片是矿相显微镜研究的主要对象。光片磨制的质量好坏，直接影响到矿相学研究的可靠度。光片的制备过程须经准备矿石、切片、棋磨、(细磨、磨光、安装等几道工序)o    首先选择有代表性的矿石磨制光片，光块或光薄片。
光块是对具有特殊意义或有代表性的矿石结构构造(如显示划分矿化阶段的标志，
有典型的矿石构造的)的部分磨制成大光面，.其大小根据实际情况选定。光块可提供作较大范围光面进行观察研究之用。光薄片是偏，反步两用的，不加盖玻璃，可以鉴定透明矿物的成分以及与不透明矿物之间的关系，
    其次是将标本进行锯切，并进行粗磨及细磨，然后将细磨的光片进行抛光，最后将光片进行按装，即可放到显微镜下去观察。